应用范围:
支持MCU、数字通信芯片、多媒体设备和存储类

QT-8100 IC测试系统适用于常规DC、AC参数测试和混合类及模拟类IC

应用范围: 电源管理类；数码消费类；音频类；汽车、节能环保电

测试范围：常规DC、AC参数测试、分立器件Wafer多site和IC功能性

QT-7200是应对MCU、数字通信芯片、数字多媒体、存储类和数字逻辑

应用范围：QT-6000测试系统适用于测量中小功率三极管、场效应管

QT-4100分立器件测试系统，适用于三极管、二极管、齐纳二极管、M

整合DC&AC测试机，由一台PC控制测试程序及收取测试数据，支持dat

QT-3109DR适用于氮化镓动态RDON参数测试。可以跟QT-4100，QT-600

QT-3108SW适用于IGBT或者SIC MOSFET 双脉冲或者单脉冲开关参数测

QT-3104 QG适用于MOSFET 栅极电荷测试QG；QGD；QGS。
R26;

QT-3101适用于测试MOSFET、IGBT、二极管的雪崩参数。
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QT-3102-XX测试器件类型：三极管、场效应管、IGBT、二极管、可选

自研LCR Mosfet RG/CG测试，也可以用于测试二极管的电容测试，分

QT-3105TRR适用于MOSFET寄生二极管 、二极管，动态电感负载 TRR